CST-50冲击试样缺口投影仪(夏比投影仪)
一、 冲击试样缺口投影仪产品简介:
冲击试样缺口投影仪(夏比投影仪)是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。冲击试样缺口投影仪(夏比投影仪)是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工合格,操作简便,检查对比直观、效率高,是目前切实可行、并能检查质量的方法,是相关理化试验室的必备仪器。
二、 冲击试样缺口投影仪主要技术指标:
1、放大倍数:50×
2、投影屏尺寸:200×200mm
3、工作台位移:纵向±10mm,横向±10mm,升降±12mm(无刻度)
4、工作台转动范围:0~360о(无刻度)
5、光源:卤钨灯12V 100W
6、电源:220V 50HZ 150W
7、外形尺寸:515×224×603mm(长×宽×高)